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Sekidenko OR4000E半導體薄膜高溫計

描述:Advanced Energy®的 OR4000E多通道光纖測溫儀(OFT)能夠自動(dòng)探測測量材料發(fā)射率,可用于RTP、HDP-CVD、MOCVDUV固化和其它各種半導體工藝過(guò)程。OR4000E型具有類(lèi)似OR4000T的高速性能,并且兼具實(shí)時(shí)輻射率補償的優(yōu)點(diǎn)。其采用塊化設計,可快速量身定制,滿(mǎn)足不同的的工藝應用要求。

更新時(shí)間:2024-07-03
訪(fǎng)問(wèn)次數:320
廠(chǎng)商性質(zhì):代理商
詳情介紹
品牌Advanced Energy/優(yōu)儀價(jià)格區間面議
應用領(lǐng)域電子,交通,汽車(chē),電氣,綜合

主要特性

優(yōu)點(diǎn):


  • 提高可重復性并顯著(zhù)減小誤差

  • 提高生產(chǎn)率、產(chǎn)量和生產(chǎn)能力

  • 提高多個(gè)腔室和基材的穩定性和可靠性


特點(diǎn):

  • ·主動(dòng)輻射率檢測和補償

  • 溫度和輻射率讀取速率快

  • ·模塊化的結構具有高靈活性

  • ·全套I/O和外部觸發(fā)器/同步組件


技術(shù)參數:

概述:實(shí)時(shí),雙通道,在測量過(guò)程中能實(shí)時(shí)測量材料發(fā)射系數并糾正,補償測量溫度,測量速度高達2kHz
通道配置:1-2通道,透過(guò)脈沖發(fā)射器實(shí)時(shí)糾正發(fā)射系數,每個(gè)通道可單獨配置
測溫范圍:50-3500°C
實(shí)時(shí)發(fā)射系數范圍:0.03 至 1.0
測量波長(cháng):UV to 2300 nm
讀取速率:高達2kHz,在實(shí)時(shí)發(fā)射系數自糾正溫度測量模式下可達500Hz
測量精度:±1.5℃
重復精度:±0.1℃℃,正常情況下
分辨率:0.001°C
顯示:內置,4x20LCD屏,帶鍵盤(pán)輸入
數據I/O:RS-232,RS-422/485,and Etherne
模擬輸出:t0-10V或4-20mA
控制接口:外部觸發(fā)輸入,同步輸出,高低報警
電源:交流:90 to 263 VAC, 47 to 63 Hz直流:24V DC
環(huán)境參數:5-40℃,非冷凝
物理尺寸:8.6 cm (H)x15.2 cm ()x 21.8 cm(D)
重量:2.0kg
安裝:底部M3 X0.75螺孔
采樣響應時(shí)間:2kHz采樣速率時(shí)<2ms



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