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碳化硅SiC外延工藝溫度監測方案

 更新時(shí)間:2024-10-08 點(diǎn)擊量:85

SiC外延需要嚴格控制厚度均勻性、摻雜均勻性、缺陷率和生長(cháng)途率,方法包括化學(xué)氣相沉積CVD、液相外延LPE、分子束外延MBE等,其中CVD兼備成本適中+外延質(zhì)量好+生長(cháng)速度快的優(yōu)勢,應用。

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該工藝生長(cháng)溫度需要達到最高 1700 ℃,還涉及到多種復雜氣氛環(huán)境,這對設備結構設計和控制帶來(lái)很大的挑戰。

SiC CVD外延設備一般采用水平熱壁式反應腔、水平溫壁式反應腔和垂直熱壁式反應腔 3 種設備結構原理形式。

 

在水平熱壁單片式外延爐中高溫計通過(guò)石英窗口以及石墨熱壁開(kāi)孔,可以測試石墨熱壁中段的溫度。根據現場(chǎng)設備情況,高溫計可選用激光瞄準或視頻瞄準形式。

 


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