工作范圍在可見(jiàn)光，近紅外以及短波紅外的電子成像探測器生成的二維電子圖像在工業(yè)，國防，安全，科研，環(huán)保，醫療等領(lǐng)域有著(zhù)重要的應用。工作范圍在VIS/NIR波段的成像探測器幾乎全部基于硅材料的技術(shù)：彩色或者單色制式的CCD, CMOS. ICCD, EMCCD, EBAPS, sCMOS等。彩色VIS/NIR探測器的工作波段只局限于可見(jiàn)光波段而單色VIS/NIR探測器的工作波段則可以達到1000nm。

InGaAs成像探測器的工作范圍在SWIR波段：非制冷類(lèi)型工作在900nm-1700nm；制冷類(lèi)型工作在1000nm到約2200nm以及特殊的帶寬從600nm到1700nm。

Inframet提供一組三套用于測試VIS-SWIR成像探測器的測試系統：VIT，SIT和SOL。

這些測試系統的設計理念和測試能力有所不同。 簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)，可以認為VIT是一套在VIS-SWIR范圍內對幾十個(gè)帶寬進(jìn)行連續調節光強的圖像投影系統; SIT是一套可以連續調節光強和波長(cháng)的標定光源; SOL是一套連續調節光強度和步進(jìn)調節帶寬的標定光源。

編輯搜圖

VIT測試系統主要用于測試VIS-NIR光譜范圍內十幾個(gè)光帶寬的成像質(zhì)量參數，輻射參數和光度學(xué)參數; SIT測試系統主要用于測試在VIS-SWIR范圍內連續調節波長(cháng)的輻射參數; SOL測試系統主要用于測試在VIS-SWIR范圍內的光度學(xué)參數與步進(jìn)調節波長(cháng)下的輻射參數。